D256多针点测机

SemiLase-D是晶圆点测机,适应用于高速二极管晶圆的测试。
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上架时间:2021-03-29
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产品详情

设备特征

产品特点

产品介绍

D256多针点测机是一种使用多针探针盘测试芯片电性能的设备,与行业中常见的探针台比较,D256的产率具有明显优势,约是其他常见探针台的3-5倍。

D256使用256根针与晶圆芯片形成电接触。测试芯片时,针与针之间的切换由继电器来完成,这样可以大幅度减少探针台机械移动的时间,显著提升了设备的产率。

在设备架构上,用户可以添加芯片外观检测功能,在测试芯片电性能的同时进行芯片外观检测。针对该产品,我们已经申请了发明专利。


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